1.測試功能

   主要用于分析導體和半導體薄膜材料的功函數、價帶譜、獲取價帶/HOMO位置及能級排列圖。

 

   2.測試條件：He燈光源（HeI 21.2 eV）

 

   3.測試內容和數據形式：

   在樣品表面選取一點，分別進行（1）價帶譜測試和（2）施加-5V或-10V偏壓測試二次電子截止邊譜圖（注明：為了得到高質量數據，兩張譜圖是分兩次采集），提供價帶譜和二次電子截止邊譜圖的excel數據。

 

   4.樣品要求：樣品導電性：導體或半導體樣品（表面電阻<10MΩ ）。 樣品尺寸：5mm*5mm   至7mm*7mm，不接受大尺寸樣品，測試樣品形態：表面分布均勻、清潔無污染的固體薄膜或塊材。

 

   5.測試過程：樣品表面隨機選取一點測試，并對數據進行分析，增加測試點，增加費用。

 

   6.注意事項：

   （1）常規測試：送樣品前，填好好委托單發客服審核，確保正常測試。

   （2）測試時采用金箔樣品校準儀器，保證儀器正常工作，對因樣品問題導致的數據異常，測試費用正常收取。

   （3）測試完的樣品，僅保留3個工作日，3個工作日后銷毀，送檢樣品一般不建議回收，如需回收請注明，不承擔回寄費用和丟失風險；

 

   7.UPS測試常見問題：

   （1）為什么提供的UPS是兩張譜圖，而不是一張譜圖？

   通常有的UPS會把價帶（VB）和二次電子截止邊（SEC）一起掃描（如左側譜圖所示），但由于二次電子截止邊的信號非常強，掃譜時必須降低分析器MCP的電壓，這樣會導致價帶的信號較弱，不利于觀測價帶電子態。所以好一點的UPS 實驗會把二次電子截止邊（SEC） 和價帶（VB）分開掃描，掃描二次電子截止邊時分析器MCP用較低電壓（如右側譜圖所示），掃描價帶時MCP用較高電壓，這樣得到的譜圖質量更高，是目前更為專業的測試方法。由于二次電子截止邊和價帶譜圖是用不同分析器電壓采集的，無法合并為一張譜圖，可以采用 如右下譜圖的方式繪制譜圖放于文章中。

 

   （2）粉末樣品是否適合測試UPS，有哪些問題？

   由于UPS測量中光激發的價帶電子的動能只有幾個eV，非常容易受到材料表面的導電性、 污染程度和粗糙度等因素影響，輕則導致譜圖的峰位移動和峰形變化，重則導致無信號。UPS適用于分析表面均勻潔凈的導體以及導電性好的半導體薄膜材料。對于合成的粉末樣品，影響因素較多，UPS測試結果存在不確定性風險。

 

 

   （3）樣品制備和郵寄時注意什么？制備薄膜時要選用導電性好的基底，如硅片或銅箔等，樣品覆蓋滿基底表面，厚度盡可能薄。郵寄樣品時，樣品置于樣品盒中需用少量雙面膠固定，防止樣品晃動導致表面損傷。注意是少量雙面膠，雙面膠用多了會導致樣品難以取下，甚至發生破損。對于對水汽和空氣敏感的樣品，建議使用抽真空密封的樣品袋。樣品背面禁止粘標簽紙，難以取下，影響抽真空。

 

   （4）ITO或FTO薄膜樣品制備注意事項:

注意ITO或FTO導電玻璃的基底是玻璃（絕緣體），只有表面的ITO或FTO層是導電的，所以樣品薄膜應該制備在導電薄膜一測。對于導電面的判斷可以借助萬用表測試，一般玻璃絕緣面的電阻值太大超出量程。對于透明薄膜樣品，用雙面膠粘樣品時，一定要粘絕緣玻璃一測，防止污染樣品表面。

 

 

   （5）測試樣品需要用導電雙面膠粘在樣品托上，由于導電膠粘度比較較大導致樣品比較難取下，可能會導致樣品破碎。

 

   （6）為什么與文獻中的測試結果差別較大？ 樣品的具體狀態不可能完全一致，例如顆粒尺寸，組分分布、表面形貌和導電性等參數。即使是類似的樣品，不同文獻的結果差別也是很大。為了能更好地解釋數據，建議同一批次樣品加入對比樣品。