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      原子力顯微鏡AFM測試

      • 國家
        布魯克
      • 型號
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      • 測試項目
        固體材料表面微觀形貌、大小、厚度和粗糙度的表征,表面電勢,導電性(C-AFM),彈性模量(QNM),壓電系數PFM
      • 樣品要求
        薄膜1.5cm*1.5cm 液體15ml 塊體測試面平整,大小1cm*1cm*0.5cm

      ● 應用范圍:

      1. 生物學和生物技術,蛋白質、 DNA、病毒、細菌、組織等; 
      2. 材料科學,表面形貌形態、壓電性質、粘滯力分析、摩擦特性分析等; 
      3. 磁材料,磁疇結構成像、觀察因外部磁場引起的磁性的反轉、不同溫度下的磁結構變化等; 
      4. 半導體和電學性質測量,硅片等材料的表面形貌、表面電勢和電容測量、表面電荷分布圖、摻雜濃度分析、失效分析(局域導電性和絕緣層漏電流); 
      5. 聚合物和有機薄膜,球狀或柱狀晶體、聚合物單晶材料、聚合物納米顆粒、LB 膜、有機薄膜等;
      6. 納米材料,納米粉體、納米復合材料、納米多孔材料; 
      7. 納米結構材料, 富勒烯、碳納米管、納米絲、納米膠囊;
      8. 納米電子學,量子點、納米線、量子結構。
       
      ● 設備性能:
      1. 高分辨生物和材料的形貌掃描,掃描范圍在0.4μm×0.4μm到125μm×125μm之間(xy平面),Z方向可檢測5 μm以內,垂直(Z)方向上的RMS值<0.3埃;
      2. 在掃描形貌的基礎上可同時測量局部物理、化學性質。
       
      ● 表征技術:
      1. 力學性質:力曲線,楊氏模量,黏附力,摩擦力等;
      2. 電磁學性質:表面電勢,導電原子力,壓電力響應,靜電力,掃描電容顯微鏡,磁場力顯微鏡等;
      3. 光學性質:AFM-拉曼聯用;
      4. 納米加工:納米壓痕/劃痕等。
      ● 案例

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