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      電子背散射衍射EBSD測試檢測

      • 國家
        日本電子
      • 型號
        JSM7400 探頭Pegasus XM2 EBSD
      • 測試項目
        織構和取向差分析;晶粒尺寸及形狀分布分析;晶界、亞晶及孿晶界性質分析;應變和再結晶的分析;相簽定及相比計算。
      • 樣品要求
        塊體: 5mm≤長≤15mm, 5mm≤寬≤15mm, 1mm≤厚度≤15mm; 測試面平整光滑

       樣品要求:

      樣品高度小于15mm,直徑小于30mm;

      固體干燥樣品,樣品上下表面整潔及其平整,打磨之后并拋光。

       
      ● 應用范圍:
      應用于各種極具挑戰性的材料的形貌觀察、元素組成和分布測試、結構和取向分析。如金屬、納米顆粒和粉體、納米管和納米線等各種納米材料、多孔物質(如硅、羥基磷灰石)、 塑料電子器件、玻璃基體材料、有機材料、高分子物質、金剛石薄膜、半導體截面、晶體材料、生物樣品、各類薄膜材料和截面等。
       
      ● 技術參數:
      1.電鏡分辨率:
      高真空:1.0nm @ 15kV;1.6nm @ 1kV。
      低真空:1.5nm @ 10kV;1.8nm @ 3kV
      2.電鏡加速電壓:200V-30kV
      3.電鏡著陸電壓:50V-30kV
      4.束流大?。?.6pA-100nA
       
      ● 合作案例:
       
      ● 注意:委托測試單務必隨樣寄過來,以便第一時間提供測試服務。

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