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      球差透射電鏡TEM測試檢測

      • 國家
        美國 FEI
      • 型號
        Titan ETEM G2
      • 測試項目
        形貌、晶格條紋、原子相、明暗場、高倍率能譜分析
      • 樣品要求
        拍攝高分辨圖像的樣品要求厚度在10 nm以下,最好5 nm以下才能獲得較好的原子像。 粉末樣品,要求樣品均勻分散在支持膜上,或者最好是懸空的(比如使用微柵碳支持膜),并且干燥,能夠區分支持膜正反面。 塊體樣品,要求樣品大小為直徑3 mm的圓,厚度為200 nm以下;金屬樣品建議使用FIB的辦法來進行減薄,這樣獲得快捷方便??梢詼y試磁性樣品,但分辨率會有所下降。

        拍攝高分辨圖像的樣品要求厚度在10 nm以下,最好5 nm以下才能獲得較好的原子像。

        粉末樣品,要求樣品均勻分散在支持膜上,或者最好是懸空的(比如使用微柵碳支持膜),并且干燥,能夠區分支持膜正反面。

        塊體樣品,要求樣品大小為直徑3 mm的圓,厚度為200 nm以下;金屬樣品建議使用FIB的辦法來進行減薄,這樣獲得快捷方便??梢詼y試磁性樣品,但分辨率會有所下降。

        Titan ETEM G2以其卓越的產品設計和已獲證明的具有突破性的性能和結果成為全球各地杰出研究人員的首選掃描/透射電子顯微鏡 (S/TEM)。是全球功能最強大的商用 S/TEM之一,使用革命性的 60-300 kV 電子鏡筒,通過 TEM 和 STEM 模式在各種材料和工作條件下進行亞原子級的探索和研究。

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