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      原位XRD測試-高溫XRD測試低溫XRD測試

      • 國家
        日本·理學
      • 型號
        Rigaku,TTR3
      • 測試項目
        相變研究,高溫范圍室溫-1200℃之間;低溫范圍35K-300K
      • 樣品要求
        最好是粉末樣30mg,塊體樣,厚度≤5mm,10MM≤直徑≤15mm,測試面平整,且用小紙條標記出測試面的反面
       

        具體參數:

        1、X-射線發生器:最大輸出功率18KW,穩定度:±0.01%

        2測角儀系統: 掃描方式:θ-θ可聯動或單動,

        角度最小步進: 1/10000°

        3、功能附件:

        (1)低溫附件:溫度范圍35K-300K,氦循環制冷,最大降溫速度5K/分鐘,分辨度0.1K

        (2)高溫附件:最高溫度:室溫---1200°C;樣品不熔化

        (3)小角度測量附件:2θ從0.1°到3°

        (4)薄膜測量附件


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