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原位XRD測試-高溫XRD測試低溫XRD測試

國家

日本·理學
型號

Rigaku，TTR3
測試項目

相變研究，高溫范圍室溫-1200℃之間；低溫范圍35K-300K
樣品要求

最好是粉末樣30mg，塊體樣，厚度≤5mm，10MM≤直徑≤15mm，測試面平整，且用小紙條標記出測試面的反面

詳細信息

　　具體參數：

　　1、X-射線發生器:最大輸出功率18KW，穩定度:±0.01%

　　2測角儀系統: 掃描方式:θ-θ可聯動或單動,

　　角度最小步進: 1/10000°

　　3、功能附件:

　　(1)低溫附件：溫度范圍35K-300K，氦循環制冷，最大降溫速度5K/分鐘，分辨度0.1K

　　(2)高溫附件：最高溫度：室溫---1200°C;樣品不熔化

　　(3)小角度測量附件：2θ從0.1°到3°

　　(4)薄膜測量附件

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